ニュースリリース - 2005年11月9日

シノプシス、テストパターン自動生成ツールTetraMAX ATPGの性能を大幅に向上

TetraMAX ATPGの処理速度の向上と新しい波形デバッガの組み合わせにより、

複雑なデザインのテストパターン生成をさらに効率化

2005年11月8日 カリフォルニア州マウンテンビュー発 - 半導体設計ツールの世界的リーダーであるシノプシス（Synopsys, Inc.、Nasdaq上場コード:SNPS）は本日、シノプシスのテスト・ソリューションTetraMAXの機能改善を発表した。今回の機能向上により、自動テストパターン生成（ATPG）およびテストのデバッグ作業に要する時間を劇的に短縮できる。これまでのバージョンに比べて、すべての設計スタイルでATPGの処理速度が標準的に4倍以上向上している。さらに新たな波形デバッガが搭載され、組み合わせて使用することにより、複雑なIC向けの高品質な製造テストの作成で、設計者に大幅な生産性の向上をもたらす。

設計の複雑化に加えてテスト品質の厳しい要求により、製造故障検出の効率化が叫ばれている。今回の機能改善でTetraMAX ATPGの処理速度が4倍向上したことにより、さらに高いテスト品質を短期間で実現できるようになる。さらにTetraMAX ATPGの新しい波形デバッガにより、テスト設計のルール違反の検出とテスト・プロトコルのデバッグをさらに効率的に行うことが可能となった。これらの機能向上は、処理速度を向上し、最高品質のテストの作成に必要なデバッグ機能を提供する。

日本の半導体メーカー最大手である株式会社 ルネサステクノロジ　設計技術統括部　システム設計技術開発部 部長 多田修氏は、次のように述べている。「テストパターン生成を効率的に行うことにより、我社の最先端SoCおよびマイクロコントローラ・ソリューションを提供するために要する時間と労力を最小限に抑えることが可能となります。今回の大幅なATPG実行時間の短縮が我社の製品の量産までの期間をさらに短縮してくれると大きな期待を寄せています。」

世界を代表するコミュニケーション・システムおよびストレージ・システム企業が採用している標準ベースのシステム相互接続機能向けLSIを開発しているTundra Semiconductor社 DFTマネージャーのBruno Latulippe氏は、次のように語っている。「TetraMAX ATPGの最新バージョンを使ってtransition delay testを行った際に、2004.12バージョンに比べ処理速度が6倍向上したことを確認しました。製品の複雑性が増す中、このようなATPG実行時間の劇的な短縮により、At-speedの動作テストの実行を迅速化することができると期待しています。」

シノプシス テスト・オートメーション・ビジネスユニット マーケティング・ディレクター Graham Etchellsは、次のように述べている。「デバッグの迅速化により、特に複雑な初期化シーケンスやスキャン・プロトコルを使用している回路の開発期間を短縮することができます。またTetraMAX ATPGの新しい波形デバッガを使用することで、プロジェクトに大きく影響するテスト容易化設計における問題の原因を迅速に特定し、修正することが可能となります。」

シノプシスについて
Synopsys, Inc. は、IC設計向け電子設計自動化ソフトウェア（EDAツール）の世界的リーダである。複雑なシステムオンチップ開発を実現する、最先端技術を用いたIC設計プラットフォームと検証プラットフォーム、および製造ソフトウェアを世界中のエレクトロニクス市場向けに提供している。また、顧客の設計プロセスを簡素化し、その製品開発期間を短縮するために、設計資産（IP）やデザイン・コンサルティング・サービスを提供している。カリフォルニア州マウンテンビューに本社を置き、事業所は北米、ヨーロッパ、日本、アジアなど60ヶ所。詳細な情報は、http://www.synopsys.co.jp より入手可能。