テスト・ソリューション

TestMAX

TestMAX™は、半導体デバイスに組み込まれるあらゆるデジタル/メモリー/アナログ・ブロックにご活用いただける革新的な新次元のテストならびに診断機能をご提供します。車載デバイスのテストならびに機能安全サポートはもとより、多くのデザインで用いられる高速インターフェイスを活用して比類なきテスト容量/効率を実現する各種テクノロジも含め、これまでに無いテスト・ソリューションをご提供します。

TestMAX: Test all the Limits

パワフルかつコンフィギュラビリティの高いテスト自動化フローにより、TestMAXが搭載する全ての機能はシームレスに統合されています。シノプシスのFusion Design Platformとのダイレクト・リンクによりフィジカル/タイミング/パワーを考慮しつつ、RTLデザイン開発の早期段階で複雑なDFTロジックのバリデーションが可能となっています。上図のようにTestMAXには、早期テスト性解析/プランニング、階層テストパターン圧縮、フィジカル考慮の診断、ロジックBIST、メモリーセルフテスト&リペア、アナログ故障シミュレーションといった数々の新機能が統合されているため、これまで困難とされてきたテスト課題を解決し、最も難易度の高いデザインに対しても高いテスト効率を実現することができます。