別讓晶片故障毀了攸關安全的設計

故障模擬技術

故障模擬是評估晶片故障影響的最有效的方式之一，同時確保設計能以適當的方式做出回應。故障模擬通常在設計已通過功能仿真模擬後才算完成。此時，理想上不應該有太多變更。雖然這個流程涉及評估設計中的所有潛在錯誤，並確定是否可以偵測到這些錯誤，但斷覆蓋率目標會影響故障模擬的成功與否。越是攸關安全性的設計，診斷覆蓋率目標就越高。鑑於滿足目標所需的故障模擬數量，針對更大、更複雜的晶片設計，會讓整個流程變得更加困難和耗時。

眾所周知，為了滿足攸關安全的晶片設計所需的功能安全標準，功能驗證工作量增加了 30%，而故障模擬是其中不可或缺的一環。許多傳統故障模擬工具和方法根本無法勝任這項工作。

幸運的是，現在有一種將功能驗證和故障模擬整合至單一流程中的解決方案。新思科技統一功能安全驗證平台適合大型、雜雜的SoC；這些SoC在汽車、軍事、醫療等應用中越來越普遍被採用。這個平台的一個關鍵元件是 Synopsys VC Z01X 新一代故障模擬器，確保驗證團隊可以以最低限度的變更設定、設計或測試工作台代碼或偵錯方法，從功能模擬進展到故障模擬。

技術文章

新思科技發表的技術文章「使用先進故障模擬，確保功能性安全」，討論了攸關安全的相關應用的關鍵考量，並說明統一功能安全驗證平台如何協助開發符合功能安全標準和滿足上市時程目標的穩定晶片。立即下載詳閱，深入瞭解如何防止晶片故障，避免導致潛在的破壞性後果。