Yield Explorer

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以设计为中心的良率管理

纳米节点良率问题主要受设计-工艺-测试交互的影响,要求执行跨域分析以快速缓解这些问题。Yield Explorer 将物理设计流程、晶圆制造和晶圆及芯片级检测等不同来源的相关良率数据集中到一个单独的数据库。

Yield Explorer

作为 Synopsys TetraMAX 诊断解决方案的补充,Yield Explorer 及时解决了当今产品工程设计团队面临的复杂难题。用户可以使用尽可能广泛的数据,从而能够在面对系统局限因素时执行无可匹敌的根本原因分析。现在很容易就能将 ATE 测试 结果一边与晶圆参数数据相关联,一边与 DRC 标记或时钟分配相关联。然而,Yield Explorer 在最复杂的使用情况下,凭借在分析速度高出一个数量级的优势做到了这一点,例如,以高出 10 倍的速度完成 ATPG 输出批量诊断分析。

Yield Explorer

关键特性

  • 跨站点参数、设计、物理验证、仿真、产品测试和定制数据源的复杂关联
  • 同步组件构架集成所有引入数据形成独立而连贯的分析
  • 图表和电子表格与晶圆图以及失败的设计净覆盖项交互呈现
  • 动态可扩展的数据模型允许向 Yield Explorer 数据库加载任何数量的定制数据字段
  • 平台中立性分析客户端(Windows、Linux、UNIX)允许所有用户使用相同的应用,而不考虑桌面计算环境。