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良率管理
实现快速流程与初期生产
从新芯片的设计开始，经过严格的制造流程，直到完成产品测试和出厂，半导体 IC 的生产是一个固有的复杂流程。
监控和提高良率所需的数据分析是一大挑战，特别是当数据量随着技术节点的缩减逐渐增大且变得多样时。
针对特定产品的设计-加工-测试交互使查找根本原因的方法变得更加复杂，让工程师们更难清晰地理解良率限制因素的本质。Synopsys 产品通过可根据特定用户群体调整的产品功能应对这些复杂的分析要求。