Odyssey

Odyssey

针对晶圆制造且以生产为中心的良率管理

Synopsys 的 Odyssey 产品系列包括多个组成部分,可满足半导体晶圆制造的特殊要求。Odyssey Defect 是经生产验证的缺陷数据管理解决方案,全球逾 35 个制造工厂选择了此方案。

Odyssey 也是一个完整的在线良率管理系统,可分析半导体生产和测试数据,从而快速地找出影响良率的设备和生产过程。 

Odyssey Defect

Synopsys 的 Odyssey 产品系列包括多个组成部分,可满足当前现代半导体晶圆制造的要求。Odyssey Defect 是经生产验证的缺陷数据管理解决方案,已成功帮助全球逾 35 个制造工厂管理其缺陷问题。Odyssey Defect 拥有超过 14 年的发展历史,可提供实时批量处置、SPC 提醒及一套完整的缺陷分析工具,来帮助制造工程师们解决随机和系统的良率问题。作为一个真正的全天候运行系统,Odyssey Defect 可有效、可靠地交付结果,运用错误修正过程,为客户保障最大化的使用时间。Odyssey Defect 有着开放和厂商中立的架构,其全面丰富的交互式图表、晶圆图和报告功能可支持所有检查、复审及分类工具。

  • 简单易用的Odyssey 用户界面,可帮助生产人员实现较高的生产率
  • 工具中立,平等支持所有检查和复审工具 使并行缺陷分析实现自动化,以缩短诊断周期时间
  • 业内顶尖的功能,包括易于创建和维护的分析模板,这些模板可在整个晶圆厂内共享使用,并且可以由晶圆厂的良率变化触发
  • 基于服务器的实时缺陷根源分析 (DSA),SPC 功能及自动晶圆取样和输出(处置)
  • 交互式电子表格和图表可在最短时间内帮助追踪到问题的根源
  • 稳定的 ORACLE 数据库及高度可靠的产品,无需对全天候运营晶圆厂进行太多维护支持
  • 集成的自动化功能,可使用户更快地进行合作,在几分钟(而非几天!)之内就完成根本原因的分析
  • 现已支持在 LINUX 上使用。
Odyssey Defect