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Dr. Steve Pateras
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领先于测试挑战曲线的奥义

自从半导体设备仅包含少数几个栅极的早期开始,制造测试领域就一直专注于如何在最短的时间内检测到最大数量的潜在缺陷。这个基本目标多年来一直没有改变,并且继续适用于 5nm 及更高规格。超越了测试向量压缩之后,需要新技术来控制测试时间。

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发布于 芯片设计和验证