QuickCap NX

高精度の3D寄生フィールド・ソルバー

QuickCap NXは、先進の14nm FinFET以上のプロセス・テクノロジに最適な高精度3Dフィールド・ソルバーを採用した業界標準の抽出リファレンス・ツールです。組み込みの3Dデバイス・ビジュアライザーはプロセス・エクスプロレーションに最適です。QuickCap NXの主な用途として、高精度の寄生抽出、ルールベース寄生抽出のためのリファレンス・ツール、スタンダードセルのキャラクタリゼーション、メモリセルのキャラクタリゼーション、PDK品質の改善などがあります。

製品の特長

• プロセステクノロジ・ノードの早期エクスプロレーションと寄生モデリング開発のためのフィールド・ソルバー・ソリューション
• 高度なランダムウォーク・アルゴリズムにより、テスト構造やクリティカルネットに対し個々の容量、カップリング容量、容量の分布を抽出
• 複雑なジオメトリとプロセス効果の詳細なプロセス・モデリングに対応し、14nm以下のデバイスとインターコネクト寄生を正確に解析
• さまざまなファウンドリが独自で緻密なシリコン・プロファイルを用いた高精度3D FinFETモデリング向けに採用
  
• 3Dグラフィカル・ビューアにより、モデル化の対象となる正確なプロセス・プロファイルの可視化が可能
• マルチコア処理、タイリング、有界ネット、階層的抽出によりランタイムを高速化し、設計者の生産性を向上
• ライブラリのキャラクタリゼーションをサポートするスケーラブルな環境
  
• チップ設計会社に最適な抽出リファレンス・ツール