功能安全性与可靠性
新思科技芯片设计平台内置安全机制,如双核锁步和三模冗余,并具有用于器件老化,软错误分析和模拟故障仿真的综合分析和测试技术。 而我们的验证平台是一个完整的解决方案,提供用于故障分析,可追溯性和FMEA(故障模式和影响分析)等不可或缺的安全性攸关技术,确保验证质量和功能安全性。 我们的工具已通过ISO 26262工具可信度(TCL)一级认证,全面加速质量和 ISO 26262功能安全认证。
FinFET , sign off 和分析
超高缺陷覆盖和 BIST
电源网络模拟,模型和分析
汽车内外照明系统