DesignWare 嵌入式存储器和逻辑库 

 

Synopsys 提供一系列高质量的经过硅验证的嵌入式易失性和非易失性存储器、逻辑库和测试解决方案,可有效协助片上系统 (SoC) 设计人员降低集成风险并加快上市时间。

嵌入式存储器和逻辑库的 DesignWare® Duet 组件包括存储器编译器、ROM、标准单元、功率优化套件 (POK) 及可选过载/低压 PVT,使设计人员能在特定应用场景以最低功耗实现最高性能。 高性能核 (HPC) 设计套件包含高速和高密度存储器实例和逻辑单元套件,专门设计帮助 SoC 设计人员优化 CPU、GPU 和 DSP 核,以实现最大速度、最小面积、最低功耗,或三者的最佳平衡。 此外,DesignWare STAR 存储器系统® 提供集成内置自测 (BIST) 和修复解决方案,提高测试质量和制造良率,而 DesignWare STAR 层次化系统自动对 SoC 上的模拟/混合信号 IP、数字逻辑块和接口 IP 进行层次化测试。

Synopsys 还在标准 CMOS 工艺技术中提供全系列不增加光罩的多次编程 (MTP) 及几次编程 (FTP) 非易失性存储器 (NVM) IP

  • 产品
 
  • 嵌入式存储器
  • 带有测试和修复功能的嵌入式 SRAM,以及非易失性存储器 (NVM) 

存储器编译器
DesignWare 存储器编译器针对高性能和高密度进行了优化,同时具有先进的功耗管理功能。 用于检测和修复制造故障的集成式 STAR 存储器系统提高了良率。存储器编译器也是 DesignWare Duet 组件和 HPC 设计套件的一部分。
存储器编译器也是 DesignWare Duet 组件HPC 设计套件的一部分。


非易失性存储器
DesignWare多次编程 (MTP) 和几次编程 (FTP) 的嵌入式非易失性存储器适用于各类工艺技术。


STAR 存储器系统
DesignWare STAR 存储器系统是一个全面的集成测试、修复及诊断解决方案,支持跨任何晶圆厂或工艺节点之可修复和不可修复的嵌入式存储器。


STAR 层次化系统
DesignWare STAR 层次化系统是一款自动层次化测试解决方案,可高效集成 SoC上不同的模拟/混合信号 IP、数字逻辑块和接口 IP的内建自测试。

  • 逻辑库
  • 适用于大量应用和工艺技术的逻辑库 

标准单元库
DesignWare 标准单元库具有高速 (HS)、高密度 (HD) 和超高密度 (UHD) 架构,以优化电路,实现性能、功耗和面积平衡。标准单元库同样也是 DesignWare Duet 组件 和 HPC 设计套件的一部分。
标准单元库同样也是 DesignWare Duet 组件HPC 设计套件的一部分。


超低漏电流库
超低漏电流库具有厚IO氧化层,提供高达100倍的漏电流降低。它用来实现能直接与电源(如锂离子电池)连接的常开逻辑模块,以支持高压操作。该库包含电平转换器,以支持与标准电压域的逻辑模块和存储器连接。


功率优化套件 (POK)
将功耗降到最低限度,同时保持最佳性能,适用于 65 nm 及以下的 DesignWare 逻辑库。


工程变更指令 (ECO) 套件
具有高速及高密度架构的金属可编程单元库最有利于那些寻求低成本光罩设计修改的设计者。

  • Duet 组件
  • Duet 嵌入式存储器和逻辑库及 HPC 设计套件 

Duet
DesignWare Duet 组件包括为您的整个 SoC 实现速度、功耗和面积最佳组合所需的全部物理 IP。


高性能核 (HPC) 设计套件
提供一系列高速和高密度的嵌入式存储器和逻辑库,帮助 CPU、GPU 和 DSP 内核获得优化的性能、功耗和面积。