歩留り管理 

歩留りの最適化とイノベーションの加速 

半導体ICの製造には、新しいチップの設計から始まり、厳格な製造プロセス、最終工程の製品テストおよび流通に至るまでの全工程を通じて複雑なフローが伴います。 歩留りのモニタリングと向上に必要なデータ解析は、データ量が大規模化、多様化し、テクノロジノードが微細化する中で、特に大きな課題になっています。 製品固有の設計-プロセス-テストの流れが根本原因の特定を一層複雑にし、歩留りの制約要因の性質を明確に把握することを困難にしています。 シノプシスの製品は、特定のユーザーグループごとに調整された機能によって、このように複雑化した解析要件に対応します。

  • ツール
 
  • Yield Explorer
  • 製品エンジニアリングのためのデザイン重視の歩留り管理 more

 
Yield Explorerは設計、シミュレーション、テスト、製造のデータを集約することで、歩留り関連の意思決定にかかる期間を数週間単位から数時間単位へと短縮します。
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  • Odyssey
  • ウェハー製造のための生産重視の歩留り管理more

 
シノプシスのOdysseyシリーズには、最新の半導体製造ファブが求める要件を満たすためのさまざまな製品が含まれています。

  • Camelot
  • 次世代のCADナビゲーションとファブ解析more

  • Sysnav
  • PCB、マルチチップ・モジュール、積層ダイのためのCADナビゲーションmore

 
PCB、マルチチップ・モジュール(MCM)、積層ダイのレイアウト可視化および信号トレースのためのCADナビゲーション・ソリューション
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エンジニアが重要なデータの収集、コリレーション、解析、共有する作業を迅速にし、高い歩留りを実現および維持するためのカスタマイズ可能な歩留り管理ソフトウェア。
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