近年、システム・オンチップ（SoC）設計者が直面している多くの検証課題の中でも、クロック・ドメイン・クロッシング（CDC）は特に困難な課題です。最新のSoCには、数十、場合によっては数百もの非同期クロック・ドメインがあり、従来のシミュレーションやスタティック・タイミング解析（STA）で検証することは難しくなっています。RTLシミュレーションは、データ転送の問題につながる非同期クロック境界のメタスタビリティを検証するためには設計されておらず、STAは非同期クロック・ドメインの問題に対応しません。
CDC問題は、設計エラーの主要な原因になっています。このようなエラーにより、設計とデバッグのサイクルにおいて多大な時間と費用が浪費される可能性があり、最悪チップ内でエラーが見つかった場合には、再設計にかかるコストを余儀なくされます。また、従来のCDC問題、リセット・ドメイン・クロッシング（RDC）もシグナルのメタスタビリティの原因になります。マルチフェーズ電源ブート・シーケンスなどの利用が広まったため、非同期リセットの利用も広がっています。その結果、RDCの問題を原因とする設計エラーが増えています。（これらのリセット・ドメイン・クロッシング機能の詳細についてはSpyGlass RDCデータシートをご参照ください。）SpyGlass®は、この種の問題に対し、強力で包括的なソリューションを提供します。
