在电子设计自动化(EDA)领域中,综合是指将高级硬件描述转换为可在半导体芯片上实际制造的低级表示形式的自动化过程。通常情况下,综合是指将用Verilog 或VHDL等硬件描述语言编写的寄存器传输级(RTL)代码,转换为门级网表 。该网表 规定了将在硅片上实际制造的逻辑门及其连接方式。
这一过程是数字集成电路(IC)设计的基础。综合过程在设计人员创建的、可供人类阅读的逻辑(摘要 )与制造工具所需的具体、详细的硬件之间起到了桥梁作用(桥 )。这是从概念到物理器件的转换过程中,确保预期功能、性能及其他设计目标得以保持的关键步骤。
综合不仅能将代码转换为电路,还能针对功耗、性能(速度)和硅片面积等关键指标对生成的电路进行优化。随着工艺节点不断缩小、设计日益复杂,综合在确保芯片高效、可靠且可制造方面发挥着越来越重要的作用。
综合从RTL代码开始,该代码通过寄存器、运算和数据流来描述数字电路的行为。综合过程包括以下几个关键步骤:
综合工具还会提供反馈,说明设计在多大程度上达到了既定目标。例如,它们可以评估电路是否能以目标时钟频率运行,或者是否能满足特定的面积预算。这种反馈使设计人员能够在设计流程的早期阶段优化其RTL代码或约束条件。
| 步骤 | 描述 |
| 分析与阐述 | 读取RTL代码、检查错误,并构建设计的内部模型。 |
| 技术图谱 | 将RTL转换为由标准 逻辑门和触发器组成的网络。 |
| 优化 | 针对面积、功耗和性能(例如:重定时、资源共享)对网表 进行了优化。 |
| 约束 处理 | 应用时序、面积和功耗等设计约束条件。 |
| 输出生成 | 生成门级网表 ,用于布局 、布线 以及物理设计。 |
在先进的半导体工艺节点上,诸如工艺波动、漏电 以及时序收敛等问题变得愈发突出。综合设计必须考虑这些物理现实,这通常需要与物理设计工具进行更紧密的集成,并采用更复杂的建模方法。这有助于确保设计具有可制造性,并能满足性能和功耗目标,即使设计复杂度不断提升也是如此。
综合与验证和测试密切相关。在综合过程中,可以插入测试结构,以确保对制造出的芯片进行高效的缺陷测试。综合工具还与形式化验证工具协同工作,后者用于检查门级网表 是否在功能上等同于原始的RTL代码,从而有助于在制造前发现错误。
RTL 综合 具体指将寄存器传输级代码转换为门级代码网表 ,而逻辑综合是一个更广义的术语,可涵盖不同抽象层面的优化和变换。实际上,在数字集成电路设计的环境 中,这两个术语常被互换使用。
| 对比方面 | RTL 合成 | 逻辑综合 |
| 输入电平 | 寄存器传输级(RTL)代码 | 可以包含各种抽象层次 |
| 输出 | 门级网表 | 跨抽象层的网表 优化 |
| 范围 | 更侧重于RTL到门级转换 | 范围更广,包括变换和优化 |
| 用法 | 常用于数字集成电路设计 | 常与……互换使用RTL 综合 |
虽然综合工具能够检测出许多错误,例如未连接的信号或不一致的层次结构,但它们无法替代全面的功能验证。不过,综合工具确实会标记出可能导致无法制造或影响实现的问题,而等效检查 工具则能确保综合后的设计符合设计者的意图。
现代综合技术正在迅速发展。机器学习正被用于预测设计变更的影响并改进优化过程。基于云的综合技术使大规模设计的周转时间更短。将综合与布局 和布线 相结合的统一流程,有助于应对先进芯片日益增长的复杂性和集成度要求。
综合设计为半导体设计流程带来了诸多重要优势:
| 优势 | 描述 |
| 自动化 | 自动将高级RTL转换为硬件。 |
| 优化 | 通过算法提升功耗、性能和面积。 |
| 可扩展性 | 支持从小型控制器到大型SoC的各种设计。 |
| 可预测性 | 可针对时序、面积和功耗提供早期反馈。 |
| 集成 | 可与验证、测试和物理设计工具配合使用。 |
| 一致性 | 从RTL到硅片,始终保持设计意图。 |
综合设计直接影响芯片能否达到其性能和功耗目标。通过优化逻辑并将其高效映射到工艺库中,综合工具有助于实现严苛的时序目标并最大限度地降低能耗,这对电池供电和高性能应用尤为重要。
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| 流程 | 新思科技 产品 | 目的 |
| FPGA | Synplify® | 适用于可编程逻辑设计的高质量综合。 |
| ASIC | Design Compiler® | 行业——标准 RTL 综合 ,针对PPA 进行了优化(功耗、性能、面积)。 |
| ASIC | Fusion Compiler™ | 集成了综合、布局 和布线 功能的统一RTL到GDSII 流程。 |