嵌入式测试和修复

嵌入式测试和修复

概述

Synopsys 测试和修复解决方案为大型系统级芯片 (SoC)设计的方方面面提供了全方位的测试覆盖。这一解决方案结合了专为嵌入式存储器测试、诊断和修复设计的 DesignWare® STAR Memory System®,以及专为所有 SoC 级 IP 和内核进行层次化测试而设计的 DesignWare STAR Hierachical System统,这可使设计人员降低芯片集成时间,并提高测试结果的质量。

STAR Memory System是一个集成了测试、修复及诊断的全方位的解决方案,支持所有晶圆厂、所有工艺节点或者是所有存储器 IP 供应商所提供的可修复或不可修复的嵌入式存储器。凭借其高度自动化的设计实现和诊断流程,SoC 设计人员可以实现设计的快速收敛,并显著缩短批量生产的上市时间和良率达成周期。

STAR Hierachical System是一套自动化的、多层次的测试解决方案,专用于高效地测试 SoC 或使用多个 IP/内核的设计,其包含了模拟/混合信号 IP、数字逻辑模块和接口 IP。通过自动化地创建多层次的符合 IEEE 1500 标准的网络,并在 SoC 级层面上访问和控制所有的 IP/内核,这将大大地降低测试集成的时间,并且运用灵活的 IP 和内核测试调度有效地提升了测试结果的质量,以及包括了对测试时间合功耗上的优化。工程团队可以利用该系统高度自动化的可测试性设计方案以及层次化的 IP 和内核级的测试方法,将其测试集成的时间缩短至数日之内,从而以更快的速度、更低的设计和测试成本将其设计推向市场化。