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什麼是 3D-IC 技術?

新思科技 編輯部

2022年3月3日 / 閱讀時間 6 分鐘

定義

3DIC 是一種三維 積體電路 (IC) ,是透過將不同的晶片或晶圓垂直堆疊,整合成單一封裝而製成。在 3DIC 封裝內部,元件是透過矽通孔(TSVs)或混合鍵合 相互連接的。

為何要採用三維積體電路(3DIC)?

在 2DIC 中,每個晶粒 皆獨立封裝,並佈置於印刷電路板(PCB)上。隨後,透過導電線路將同一封裝內的多個晶片相互連接。將多個晶片疊放在單一封裝中,所佔空間比將這些晶片並排放置時更少。疊放晶片之間的距離較短,使得已知良品的晶粒 之間能更快速地交換資料,同時消耗較少的能量。

相較於傳統的 2DIC 設計,此方法具備多項優勢,包括提升效能、降低功耗以及縮小外型尺寸。3DIC 設計技術相較於傳統的 2DIC,能更有效率地利用空間,並提升電氣性能,詳見異質整合 。

3DIC 採用矽中介層和垂直貫穿電路(TSV),以提升不同 IP 之間的互連效能。 矽中介層 是一種薄矽晶圓,用於2.5D 及3DIC設計中,用以連接單一封裝內的多個晶粒或晶片。它作為基板 ,晶粒置於其上,並透過細間距的垂直TSV及微凸點進行連接。相較於傳統的2DIC,此設計能實現更佳的散熱效果、降低功耗、提高封裝密度,並提升電氣性能。

堆疊晶片的資料傳輸,是透過整合於底部晶粒 中的TSV進行。這些TSV是由銅等導電材料構成的垂直物理支柱。將堆疊晶片封裝成單一封裝,而非將多個封裝安裝在PCB上,可將I/O密度提高100倍。透過最新技術,每位元的傳輸能耗可降低至30倍。

帶有 TSV 的堆疊晶片範例 | 新思科技


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3DIC 的優勢

隨著摩爾定律的放緩,將更多功能整合到單一晶粒 中,未必總是開發下一代半導體裝置的最佳方式。3DIC 提供了一種可行且有價值的替代方案,透過將矽晶圓或晶粒垂直堆疊成單一封裝裝置,在效能、功耗及佔用空間方面帶來優勢。其優勢包括:

  • 降低成本與佔用空間:設計規模的擴大(無論是功能還是密度方面)正導致嚴重的成本與良率問題,並延長開發週期。 從成本角度來看,由不同元件組成的大型系統在矽晶片實現方面存在多種「最佳平衡點」。與其將整個晶片都採用最複雜和/或最昂貴的製程節點,異質整合 技術允許針對系統的不同部分選用「最適合」的製程節點。此舉可將先進/昂貴的製程節點保留給系統的關鍵部分,而將較便宜的製程節點用於非關鍵部分。
  • 更高頻寬:當談到大型且複雜的系統單晶片(SoC)時,通常首先考慮的優化項目是面積。晶片設計人員希望將盡可能多的功能整合到晶片中,並提供盡可能高的效能。 然而,總是有必要的功耗與熱設計功耗限制,這在行動裝置、穿戴式擴增實境(AR)及物聯網(IoT)等應用中尤為關鍵(儘管在資料中心的高效能運算等領域,當整體能源消耗同樣被列為優先考量時,這點也日益重要)。採用 3D 結構使設計人員能夠持續為產品增添功能,同時不超出佔板面積與高度的限制,並能降低矽片成本。
  • 更低的功耗:隨著對更低功耗的需求激增,市場對更小封裝尺寸的需求也日益增加。3DIC 能夠提供具備更大容量(閘極與記憶體)的解決方案,在現有最先進的製程節點下,甚至可能僅需一個晶粒 即可實現。垂直堆疊技術可提供更短、更快的互連路徑,從而降低功耗。
  • 異質整合:使用多種異質晶片可提供靈活性,因為可以混合使用不同的製造製程、技術節點,甚至基礎技術。現有晶片無需重新設計即可重複使用,並整合至單一晶粒 中,這也是降低風險的另一種方式。此外,透過重複使用,還能有機會瞄準多種終端市場應用。

3DIC 在提升連通性與降低功耗方面的優勢

包裝類型(2D/3D)每平方公釐 IO 數資料傳輸功耗 (pJ/位元)
打線接合 (2D)<1010
倒裝晶片凸點(2D)<1001.5
微凸點(2D)<10000.5
TSV(矽通孔)(3D<100000.1
混合鍵(3D)多達 1,000,0000.05

3DIC 的理想應用場景

3DIC 非常適合各種以增加電晶體數量、降低功耗或縮小面積為目標的晶片。眾多不同的晶片領域都能從採用 3DIC 技術中獲得各異的優勢,而 3DIC 也在一些要求最嚴苛的半導體應用中獲得越來越廣泛的認可。

其緊湊的佔用空間對於行動裝置、物聯網(IoT)以及其他空間極為寶貴的應用場景而言極具價值。其容量與靈活性,非常適合用於運算密集型應用,例如高效能運算(HPC)、資料中心、雲端運算、人工智慧(AI)以及機器學習(ML)。

下圖顯示了受惠於 3DIC 技術且持續成長的領域:

 3DIC 的優勢
區段較低功率高效能較小尺寸更多記憶體更高頻寬
行動✔✔✔  
高效能運算 ✔ ✔✔
AR/VR(XR)✔✔✔✔✔
人工智慧 ✔ ✔ 
人際網絡✔✔ ✔✔
物聯網✔ ✔  

3DIC 的設計挑戰

在 3DIC 設計中,存在著幾項與多物理場 相關的挑戰,包括熱傳導、 電遷移、應力與應變,以及熱膨脹。這些挑戰源於 3DIC 結構的複雜性與相互連結的特性——在這種結構中,多個晶粒層疊堆疊,並透過垂直貫穿孔(TSV)和微凸點相互連接。

熱膨脹也是 3DIC 設計面臨的挑戰之一。隨著積體電路(IC)溫度變化,IC 中使用的不同材料會以不同的速率膨脹,從而產生應力與翹曲,進而影響其性能與可靠性。熱傳導會進一步加劇 3DIC 設計中的溫度分布複雜性。由於電晶體及其他元件的密度極高,熱傳導在 3DIC 中變得相當困難。 大部分熱量被困在系統內,導致溫度上升。此現象稱為自發熱。3DIC 由數十億個元件構成,這些元件透過長長的互連線相互連接。這些長互連線所產生的焦耳熱,是導致整體溫度上升的另一個主要問題。在設計 3DIC 時,必須監測並分析這些熱源,以確保其性能可靠。

多晶粒 3D-IC 系統中的熱分佈

3DIC 與 新思科技

3DIC Compiler

新思科技 3DIC Compiler 這是電子設計自動化(EDA)產業中,唯一能將端到端多晶粒 設計與整合整合於單一套件內的統一平台。它提供具備 3D 可視化功能的單一圖形使用者環境,支援 3DIC 的探索、設計、實作、驗證與簽核。該平台建構於 新思科技 Fusion Design Platform™ SoC 級 IC 設計通用資料模型 所建構,具備容量與效能的可擴展性。3DIC Compiler 能實現數十萬個晶粒 互連,這是傳統 IC 封裝工具無法達到的。它提供一整套自動化功能,並搭配電源完整性 ,以及兼顧熱效與雜訊的優化功能,可將設計迭代次數降至最低。

這項技術的優點包括:

  • 針對多晶粒 整合的整體性方法,以實現最佳的系統封裝(SiP)解決方案
  • 統一平台具備強大的 3D 檢視功能,提供直覺化的操作環境,並縮短整體整合時間
  • 將 Ansys「矽封裝-PCB」技術,用於系統層級的訊號完整性 、電源完整性 及熱分析,可加速收斂並減少迭代次數

 

新思科技 IP

設計人員正將系統單晶片(SoC)拆分為多個晶片,以提升產量、功耗、效能與面積(PPA)表現,並增強各種應用情境的可擴展性,例如晶粒 拆分、晶粒 解耦、運算擴展以及功能聚合。為滿足此類多晶粒 系統單晶片對晶粒 及 SDRAM 連接的廣泛需求,系統單晶片設計人員正採用 新思科技’ 經矽片驗證的新思科技 晶粒 至晶粒及HBM IP解決方案。這些解決方案提供低延遲控制器與高能效 PHY,採用最先進的FinFET 製程,並支援2.5D 或 3D 封裝技術。晶粒 至晶粒 IP 可實現可靠的 112G XSR 及基於並行架構的 HBI 鏈路,而 HBM IP 則支援最高達 921 GB/s 的 HBM3 SDRAM。 

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