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What Are S-parameters?

阿坎克莎·索尼

2026年3月18日 / 閱讀時間 14 分鐘

定義

散射參數即是一般所知的 S 參數,係指在電氣網路 (或電路) 受到電子訊號刺激時,用於說明該電氣網路呈現行為的數學矩陣元素。

在高頻率(超過幾吉赫茲)下,直接測量電壓和電流變得相當困難。因此,S 參數 用於描述電路網中各端口之間功率波的輸入-輸出關係。

電機工程師可將S 參數 應用於廣泛的工程設計領域,包括通訊系統、積體電路與印刷電路板(PCB)、微波電路,以及射頻(RF)電路。

值得注意的是,S 參數不同於其他使用中的參數類型 (例如 Y 參數、Z 參數和 ABCD 參數),其使用匹配負載 (而非開路或短路終端) 以呈現電力網路的特性。

S 參數的應用

數學表達式有助於我們描述周遭的世界。在小訊號電路中,線性方程式將電壓和電流等獨立量與依賴量(同樣是電壓和電流)相互關聯。

因此,即使是最為複雜的電路,也可以還原至簡單的「黑箱」,透過簡單的數學關係,說明輸出電壓和電流與輸入電壓和電流的關係。

在高頻電路出現之前,Y 參數和Z 參數是表徵網路性能的主要方法。然而,在較高頻率下,要將網路性能直接與電壓和電流建立關聯便變得困難,特別是在包含波導等傳輸線路的網路中。

因此,S 參數 所指的正是散射矩陣的元素,用以描述電壓波在電路網或電路中傳播時的散射特性。這些元素源自由E.W. Matthews、Kaneyuke Kurokawa 等人推廣的散射波概念。

何謂行進波?

當行進中的電磁波遇到障礙物或穿越性質不同的介電介質時,便會發生所謂的「散射」。因此,S 參數 闡述了沿傳輸線傳播的電流與電壓,在遇到由元件或網路所形成的斷續點時,是如何發生「散射」的。這種斷續點源於元件或網路的阻抗與傳輸線的特性阻抗(或負載阻抗)之間的不匹配。

當入射訊號抵達網路埠時,其部分能量從埠反射回去,其餘部分則傳輸 (或散射) 至網路的其他埠,進而導致訊號放大或衰減。

計算 S 參數

由於 S 參數說明的是入射與反射波在特定頻率的特性,工程師必須指定這些頻率,包括受測裝置 (DUT) 的特性阻抗。

S 參數 在微波與射頻(RF)電路(300 MHz 至 300 GHz)的設計、分析與優化方面,這些方法被證明極為有用(且被廣泛應用)。它們免除了建模射頻元件內部特性的需求,使工程師能夠專注於其輸入輸出行為。

工程師透過測量各電路端口的電壓與電流,來推導S 參數 。這些參數是無量綱係數,其計算方式為入射波與透射波(或反射波)之間的電壓比。多端口網路(n-端口矩陣)的散射矩陣包含   S 參數,其中每個參數代表電路中的一條輸入-輸出路徑。

每個參數皆為無量綱的複數,其中實部表示訊號在測試頻率下的振幅,虛部則表示訊號的相位。振幅可採用線性或對數刻度表示(若採用對數刻度,則以分貝為單位)。相位通常以度為單位表示,偶爾也以弧度為單位表示。

工程師在測量 S 參數時,亦須指定下列條件:

  • 測試頻率
  • 特性阻抗 (通常為 50 Ω)
  • 埠數分配
  • 其他條件,例如偏壓電流、溫度和控制電壓

呈現 S 參數

S 參數 會以  矩陣,其中  表示輸入埠。

所以,雙埠網路的 S 矩陣會寫成:

其中:

  •  是輸入端口的反射係數
  •  是輸出端口的反射係數
  •  是輸入端傳輸係數(或稱「反向電壓增益」)
  •  是傳輸係數(或稱「正向電壓增益」)

請注意,對角參數稱為「反射係數」,因為訊號的輸入與輸出皆發生於同一個端口;而非對角參數則稱為「傳輸係數」,表示輸入與輸出發生於不同的端口。此原則同樣適用於任何 第 th 階矩陣。

S 參數可在線性圖或極圖上繪製,其中的每個點代表一個測試頻率。

RF 電路設計的 S 參數

工程師會測量S 參數 ,以確定高頻(RF 或微波)線性網路中的特性,例如損耗、增益、阻抗及電壓駐波比(VSWR)。各項電氣標準,包括 10 GbE、SATA、PCIe 及光纖通道,均採用S 參數 來制定其測試合規程序。

重要應用包括:

  • 放大器設計:在射頻放大器設計中,工程師會運用S 參數 來分析增益、穩定性及線性度,以獲得最佳的頻寬與輸入/輸出匹配效果。
  • 濾波器設計:S 參數 協助工程師評估高通、帶通、低通及帶阻濾波器的頻率響應、插入損耗、回波損耗與選擇性。
  • 頻率響應特性分析:由於 S 參數 會隨施加的頻率而變化,因此能揭示射頻電路在寬廣頻率範圍內的特性響應,從而可對帶寬、諧振、寄生效應及其他與頻率相關的響應進行特性分析。
  • 傳輸響應特性分析:S 參數 闡述射頻電路在各端口間傳輸功率的效能,並針對損耗、增益及相位移等響應特性進行分析。
  • 阻抗匹配:透過分析S 參數 (特別是反射係數),工程師能夠實現電路元件之間的最佳阻抗匹配,並將電源與負載之間的功率傳輸效率最大化。
  • 互連分析:S 參數 可協助分析互連與傳輸線中的串擾、訊號完整性 、阻抗失配及其他效應。
  • 訊號完整性 分析:訊號強度可能會受到衰減、反射及阻抗不匹配的影響,工程師可透過檢視網路中的S 參數 來減輕這些影響。
  • 電路設計:工程師利用 S 參數 來評估不同的射頻電路配置,以優化增益、損耗、功率傳輸及阻抗匹配等設計規格。
  • 網路分析:工程師可透過將各元件的S 參數 串聯起來,來分析複雜網路的性能(例如相位移、增益及頻率響應)。

使用 S 參數的優點

S 參數 為工程師提供有關線性電路網(包括射頻電路、放大器及濾波器)性能的寶貴資訊。這些資訊包括:

  • 訊號強度、相位、反射和衰減的詳細資料
  • 訊號損耗和阻抗失配的位置
  • 傳輸線路參數,例如 R、L、C、G、TD 和 Z0

此外,在射頻頻率下,S 參數 比 Y 參數或 Z 參數更容易測量,因為它們不需要開路或短路。這些參數也容易轉換為其他參數格式,包括 ABCD 參數、H 參數、T 參數、Y 參數和 Z 參數,為電路分析與設計提供了靈活性。

S 參數亦便於儲存成 Touchstone 檔案 (ASCII 文字檔),並利用電路模擬軟體讀取。

使用 S 參數的限制

雖然使用 S 參數的優點甚多,卻有幾項限制條件:

  • S 參數僅能用於頻域分析 (訊號頻率反應),無法用於時域分析 (訊號的暫態反應)。
  • 使用S 參數 時,無法同時根據電壓和電流波形來描述電路特性。為此,工程師會採用ABCD參數。此外,將ABCD參數級聯比S 參數 更為簡便。
  • 大多數矽負載皆非線性運作。

數位電路在很大程度上受電壓閾值所支配,工程師必須理解電能的流動,因此需要進行時域分析。在涉及天線的電路設計中,時域分析同樣至關重要,工程師需要藉此闡明反射與雜散訊號的特性。

頻域分析簡化了數學分析,並能讓人直觀地理解系統品質。工程師在提及頻率特性的時變要素時,會使用增益、帶寬、共振頻率及相位移等術語。 

此外,還可以使用稱為「轉換」的數學運算子 (例如傅立葉轉換),在頻域與時域之間轉換訊號資訊,不過有可能導入誤差。

S 參數的類型

在矩陣模型中,「黑箱」代表包含像是電晶體、電容器、電阻器和電感器等互連元件的電力網路,這些元件透過各種埠與其他電路相互作用。

該網路可包含任意數量的元件,只要在施加微小輸入訊號時,其行為呈線性即可。此外,該網路亦可包含典型的通訊系統元件,例如衰減器、放大器、耦合器及濾波器,但前提是這些元件同樣處於線性工作狀態。

小訊號 S 參數

在絕大多數情況下,S 參數 適用於單頻、小訊號網路。在這些網路中,訊號幅度足夠小,以致增益壓縮或其他非線性效應可忽略不計。因此,小訊號S 參數 只需透過計算反射波與入射波的電壓比即可得出。

線性網路包括:

  • 無損耗網路不會消耗功率,因此所有端口的入射功率總和等於反射功率總和。這意味著 S 參數矩陣是酉矩陣。
  • 有損被動網路,其入射功率總和會超過輸出功率總和,表示網路會消耗電力。
  • 互易被動網路,完全由會影響傳輸訊號的互易材料構成。纜線、分路器、衰減器及合路器皆為互易網路的例子。在此情況下,S參數矩陣等於其轉置矩陣,因此 

大訊號 S 參數

隨著輸入訊號強度增加,諸如增益壓縮等非線性效應便會變得明顯。因此,大訊號S 參數 會隨輸入功率水準而變化。這些特性也被稱為「功率依賴型S 參數 」。

工程師們會依據網路的諧波平衡模擬結果來進行大信號 S 參數測量,這是一種應用於非線性電路的頻域分析方法。大信號S 參數 同樣是透過反射波與入射波的電壓比來計算的。

混合模式 S 參數

工程師經常需要將 S 參數的計算結果與頻率-增益曲線或史密斯圖進行比對。因此,會繪製混合模式S 參數 。工程師利用這些參數來表徵差分網路中的近端串擾(NEXT)和遠端串擾(FEXT)。

雙埠 S 參數

工程師在網路分析中通常使用雙端口S 參數 ,這些 同時也作為更大規模網路中高階 S 參數矩陣的藍圖。雙端口網路中反射波與入射波之間的關係可由下列公式表示:

其中  以及 分別是端口 1 處的入射波與反射波的振幅,而對於  以及 在第 2 號埠。

工程師可從雙埠 S 參數測量中取得下列網路屬性:

  • 插入損失
  • 輸入回波損失
  • 輸出回波損失
  • 純量線性增益
  • 複線性增益
  • 純量對數增益
  • 反向增益和反向隔離
  • 反射係數
  • 電壓駐波比

使用 S 參數測量訊號完整性

如前所述,S 參數 可協助工程師描述一般 -端口電路網,其中訊號可施加於任一端口並在該端口被反射。因此,一個參數  描述了從第 1 埠的事件訊號所引發的第 2 埠網路響應。S 參數 通常應用於單埠及雙埠網路。

三端口 S 參數測量雖較為困難,但工程師仍可透過專用軟體進行建模。此外,元件製造商通常會提供多端口 S 參數測量數據,但工程師仍需隨時核對這些測量數據的準確性。

使用向量網路分析儀 (VNA)

訊號完整性 工程師通常會使用向量網路分析儀,來評估射頻與微波電路在各種工作條件下的性能。因此,他們經常需要對大量 S 參數資料進行去嵌入、級聯及可視化處理,並結合理論分析與實驗來進行評估。此過程通常包含:

  • 電路模型或電路圖理論分析、應用電磁理論、傳輸線路理論和電路理論,據此推導出數學方程式
  • 透過專用軟體的協助 (根據推導得出的方程式) 擷取 S 參數以模擬電路行為
  • 使用向量網路分析儀進行實驗,在各種頻率擷取 S 參數值
  • 視需要從電路去嵌入 (減去) 個別元件的 S 參數作用

在測試過程中,工程師會將來自矢量網路分析儀(VNA)的已知訊號輸入被測裝置(DUT),以測量訊號在通過被測裝置時所產生的變化。這些變化會由連接至矢量網路分析儀的接收器(或一組接收器)進行擷取。

典型的 VNA 設定包括:

  • 掃描振盪器 (通常是合成器)
  • 資訊顯示單元
  • 兩個或多個埠 (常連接至雙向耦合器及複比測量裝置)
  • RF 纜線

您也可以選擇放入控制偏電壓或電流的手段,或是使用控制器儲存資料。

向量網路分析儀可擷取射頻網路中單一元件(或一組元件,無論是被動元件或主動元件)的頻率響應。它能測量特定訊號的功率,並擷取其相位與振幅。

工程師可從這些振幅與相位測量中,得出各種裝置特性,包括群組延遲、阻抗、回波與插入損失等特性。

VNA 是由多個埠構成的單一或多路徑儀器,可在任一埠施加刺激,例如:

  • 一個雙端口、單路徑的矢量網路分析儀(VNA)會回傳輸入端口 1 處的反射訊號與傳輸訊號數值( 以及 (分別為……)。然而,必須將被測裝置(DUT)反向連接,才能在第 2 號端口獲得相反的參數( 以及 ).
  • 雙埠雙路徑 VNA 也能反轉訊號流,意味著可在任何方向進行測量,以擷取任何埠的反射和傳輸係數。

此外,執行校準的參考平面位置會影響 VNA 測量。

測量誤差

測量誤差的來源包括:

  • 頻率反應變化,此為 VNA 接收器之頻率反應的細微差異所致
  • 埠阻抗變化,此為特性參考阻抗和測試埠的輸入阻抗之間的細微差異所致
  • 方向性錯誤,部分入射波和反射波彼此撞擊,進而影響任一方向的測量結果
  • 隔離錯誤,一埠的少部分入射訊號可能洩漏至另一埠的接收器頻道,因而造成串擾。

視覺化 S 參數

可視化是分析 S 參數數據的重要第一步。相位與振幅數據可採用笛卡爾座標系或極座標系繪製。史密斯圖(Smith chart)是一種用於分析匹配網路的極座標圖。

欲正確計算 S 參數,需要確實瞭解 RF 電路理論、具有使用模擬軟體的經驗,並取得可靠設備。

設計 RF 電路的 S 參數

設計射頻電路是一項複雜的任務,涉及多次迭代。其設計方法取決於精確度、電路的複雜程度以及可用的工具。

下面是以典型方法設計高頻 RF 電路 S 參數的步驟:

  • 電路佈局:在電路佈局設計中,工程師會考量電路元件、傳輸線及互連結構的拓撲,並特別注意阻抗匹配與訊號完整性 。
  • 元件選型:工程師會根據需求選用放大器、混頻器、濾波器及其他元件,並在增益、功率處理能力、頻率響應等特性之間取得平衡。
  • 模擬與優化:工程師將電路模型、互連結構、元件特性及其他參數輸入至專用軟體工具中,以取得模擬所得的 S 參數值。接著,他們會微調輸入參數(例如傳輸線長度),以在頻寬、增益、阻抗匹配等方面達到最佳的 S 參數值。
  • 原型製作:一旦取得所需的參數,工程師便會利用向量網路分析儀組裝電路原型,以測量實際的 S 參數值。
  • 驗證:作為此流程的最後一步,工程師可能會將矢量網路分析儀(VNA)測得的 S 參數值與模擬結果進行比對。若發現任何差異,便會促使他們優化電路設計與元件選型,並重複此流程,直到測量所得與模擬的 S 矩陣結果一致為止。

射頻電路解決方案

從並行資料傳輸轉向高速序列資料傳輸的趨勢,正引發一系列新的半導體設計挑戰。隨著資料傳輸速率逼近每秒十億位元——意味著每條互連線路需傳輸更多位元——將需要多條序列鏈路並行運作,這將導致高頻互連損耗增加,並加劇串擾。

新思科技 透過全面的前端至後端工作流程,支援射頻積體電路(RF IC)設計,將設計從概念階段推進至經驗證且可直接投入製造的佈局階段。該 新思科技 軟體解決方案在設計流程的多個階段,提供業界領先的 IC 佈局與設計內分析功能。與此流程相輔相成的是,Ansys HFSS——電磁模擬領域的領導者——可為 RF 及電磁性能提供值得信賴的最終驗證。兩者結合, 新思科技 與 Ansys 共同提供一套統一的解決方案,使工程師能夠以更高的信心和效率來設計、分析及驗證射頻積體電路。

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