CODE V提供您快速且精確的公差分析工具

CODE V提供您快速且精確的公差分析工具

當光學系統設計完成,進行小批量生產時,為何光學性能和原設計會有落差?機構裝配的誤差該如何在前期模擬時考慮?光學元件製造和機構裝配的公差參數非常多,要如何快速進行公差分析?

CODE V不僅為光學工程師提供優質的光學設計平台,更提供多樣且快速的公差分析工具,協助您在設計過程中快速預測公差所導致的性能下降影響,以便及時修改設計。

快速的公差分析

CODE V 的 TOR 公差分析演算法是業界公認最快且精確的公差分析工具。它可以對系統的 MTF、波前誤差、光纖耦合效率、偏振依賴損耗、以及畸變等性能進行公差分析。

下圖是一數位相機鏡頭,具有13個視場,8個 Qcon 非球面,含感測器蓋板玻璃共有10個表面 (不含 stop 及像面)。對此系統增加86項預設公差及像面補償器,以波前誤差為性能進行反轉靈敏度公差分析。1秒鐘內完成公差分析並產生累積機率圖。

易於判斷全部公差對系統的敏感性

透過累積機率圖 (或稱良率圖),您可以快速掌握全部公差對系統的敏感程度,曲線越平滑越敏感。滑鼠移動至曲線某處,即可讀出其性能指標值對應的良率。

文字頁面為詳細的公差分析數據,可查看個別公差的分析結果。最終數據為每個視場的竣工性能,顯示全部視場在相同補償值下,98%良率的竣工結果。

更有效率判斷哪些公差對系統較為敏感

CODE V 提供互動式公差工具,幫助設計者對公差進行排序。當執行 TOR 分析後,即可啟動該功能,它將最敏感的公差排在最前面。當設計者確認可緊縮(或放寬)公差值時,直接於互動式公差中輸入,立即重新評價並排序,無須再次執行公差分析。

多樣的公差分析工具

CODE V 也提供有限差分和蒙地卡羅兩種演算法可以使用。當您欲評價的性能指標不屬於 TOR 公差分析所適用的性能時,可自行編輯性能指標,並使用上述兩種演算法進行公差分析。

結語

CODE V 提供速度優於業界的公差分析工具,讓您可以在每個設計階段,快速掌握系統的公差與竣工性能,是您不可或缺的光學設計工具。

更多公差分析說明可下載 White Paper 參考,也可以聯繫我們的銷售團隊了解更多有關 CODE V 的資訊。

關鍵字:公差分析、光學設計、公差敏感度、良率圖