参数检查
电路检查能够扫描网表中的常见几何和电子参数错误:
- MOSFET W, L, 源/漏区域, 周长, tox
- 可针对各个器件模型设置用户限制
- 电容值
- 仿真温度
CustomSim 电路检查 (CCK) 可在仿真运行前,自动查找设计和性能问题,报告电路中的潜在问题,从而帮助用户避免冗余的仿真时间。电路检查可提升验证的覆盖范围,并发现仿真遗漏的潜在问题点。
电路检查能够扫描网表中的常见几何和电子参数错误:
CCK 可在仿真前找出电路和偏压错误:
在仿真过程中,CCK 可监控:
CCK 可预防耗时的调试问题:
CCK 可跟踪逻辑路径:
CCK 可执行静态的晶体管时序分析:
动态时序分析:
CCK 静态串扰分析:
查找 DC 漏电:
在仿真过程中监控待机电流: