测试设计工具

高质量,低测试成本

DFTMAX™ 是一套全面的基于综合的测试解决方案,用于压缩和先进的可测性设计,解决了测试复杂设计所面临的成本难题。有些设计可能存在细微的制造缺陷,只能在测试固定型故障之外,通过具有高缺陷覆盖率的测试(如实速测试和桥接测试)才能检测到。要实现此类设计的高测试质量,需要许多额外的测试向量,这会增加测试时间及测试数据,导致测试成本的升高。

DFTMAX 通过简易的按键操作即可提供测试数据和测试时间的高度压缩,同时仅需较低的硅面积开销,从而降低了测试成本。DFTMAX 封装在 Synopsys 的设计平台内,可与 TetraMAX® ATPG 无缝衔接实现压缩,且对时序的影响几乎为零,因此能实现可预测的结果。附加到 DFTMAX 上的 DFTMAX Ultra 在使用的测试引脚减少的情况下,满足了日益提高的压缩需求。

优势

  • 降低测试成本
  • 可实现高缺陷覆盖率
  • 如常规扫描一样简便易用
  • 避免对设计时序造成任何影响
  • 利用物理设计实现面积优化
  • 保留低功耗的设计意图
  • 将测试时的功耗降至最低
  • 与 DesignWare STAR 存储器系统和 DesignWare STAR 层阶系统配合工作
DFTMAX 大幅减少了测试时间和测试数据量

DFTMAX 大幅减少了测试时间和测试数据量