Synopsys 改进嵌入式 MRAM 的 DesignWare 存储器测试和修复解决方案

DesignWare STAR 存储器系统利用新算法减少基于嵌入式 MRAM 的设计缺陷以实现制造产量最大化

美国加利福尼亚山景城,2018 年 10 月 30 日--

亮点:

  • DesignWare STAR 存储器系统的嵌入式 MRAM 全套测试、修复和诊断功能可在不牺牲测试覆盖范围的情况下优化测试时间。

  • 新型可配置存储器 BIST 和修复算法可减少 MRAM 缺陷,从而提高测试覆盖率,使制造量率最大并加快生产速度。

  • 增强型设计加速脚本可自动执行测试设计功能,从而减少集成工作量。

Synopsys, Inc.(纳斯达克股票代码:SNPS)今天宣布, DesignWare® STAR Memory SystemTM 解决方案为基于嵌入式 MRAM (eMRAM) 的设计提供新型存储器内置自测 (BIST)、修复和诊断功能,并从一开始就在 22FDX® 上支持GLOBALFOUNDRIES (GF) eMRAM。STAR 存储器系统的新算法针对的是嵌入式 MRAM 和其他类型的非易失性存储器在生产和现场测试期间的故障机制。支持多种背景模式和复杂寻址模式,可加速自动测试设备 (ATE) 矢量生成,从而为 eMRAM 提供最高的测试覆盖率,使制造良率最大,并提高系统级芯片 (SoC) 的可靠性。此外,STAR 存储器系统中的增强设计加速功能可自动执行测试和修复逻辑的嵌入式 MRAM 的规划、生成、嵌入和验证步骤,从而减少整体集成工作量。

GF 产品管理副总裁 Michael Mendicino 表示:“GF 在 22FDX 平台上的 eMRAM 技术显著提高了电池供电物联网和无人驾驶车辆雷达 SoC 的嵌入式应用的功率、密度、写入速度和数据保持能力。

借助 Synopsys DesignWare STAR 存储器系统及其针对嵌入式 MRAM 的全套硅后调试和诊断功能,设计人员可以在其 MCU 和 SoC 中构建更多功能,同时提高性能和能效。” DesignWare STAR 存储器系统是一种自动化的硅前后存储器测试、诊断和修复解决方案,使设计人员能够提高测试覆盖率,缩短设计时间,降低制造测试成本并最大限度提高制造良率。Synopsys 采用严格的仿真和硅表征方法,针对不同的存储器架构识别每个工艺节点的常见存储器缺陷机制,然后开发测试算法用于检测它们。STAR 存储器系统解决方案可以测试、诊断和调试各种存储器,包括 MRAM、SRAM、寄存器文件、ROM、CPU/GPU 缓存、CAM、电子闪存以及 DDR 和 LPDDR 等片外存储器。

Synopsys IP 营销副总裁 John Koeter 表示:“SoC 设计人员利用嵌入式 MRAM 的性能、耐用性和技术扩展优势之后,会需要一套集成的测试解决方案来帮助管理 SoC 的整体面积、功率和良率。

借助 DesignWare STAR 存储器系统的最新增强功能,Synopsys 为业界提供了首个商用测试和修复解决方案,可满足基于 eMRAM 的设计的特定测试覆盖需求,包括针对 GF 22FDX 工艺的设计。”

上市时间

有关 MRAM 支持的 DesignWare STAR Memory System 计划于 Q2 2019 面市。

关于 DesignWare IP

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前瞻性陈述

本新闻稿包含 1934 年《证券交易法》第 21E 节所界定的前瞻性陈述,包括有关 MRAM 支持的 DesignWare STAR 存储器系统的预期发布和优势的陈述。非陈述历史事实的任何陈述均可视为前瞻性陈述。这些陈述涉及已知和未知的风险、不确定性和其他因素,可能导致实际结果、时间期限或成果与前瞻性陈述中明示或暗示的内容产生重大差异。此类风险和不确定性包括产品期限和开发计划,或互操作性、性能和测试问题。Synopsys 最近在表 10-Q 中提交的季度报告的“风险因素”部分列出了可能适用的其他风险和不确定性。即便将来产生了新的可用信息,Synopsys 也没有义务公开更新任何前瞻性陈述,或更新实际结果与前瞻性陈述中预期差别明显的原因。