パラメトリック・チェック
Circuit Checkでは、ネットリストをスキャンして次のような一般的なジオメトリおよび電気パラメータのエラーを検出します。
- MOSFET W、L、ドレイン/ソース領域、周囲長、tox
- 各デバイス・モデルにユーザー制限を設定可能
- キャパシタの値
- シミュレーション温度
CustomSim Circuit Check(CCK)は、シミュレーションを実行する前にデザインや性能の問題を自動検出し、回路の潜在的な問題をレポートすることによってシミュレーション時間の無駄を省きます。検証範囲を拡大し、シミュレーションで見落とされる潜在的な問題箇所を発見します。
Circuit Checkでは、ネットリストをスキャンして次のような一般的なジオメトリおよび電気パラメータのエラーを検出します。
CCKはシミュレーションに先行して次の接続およびバイアス・エラーを検出します。
CCKはシミュレーション時に次の事項をモニタします。
CCKは時間のかかるデバッグ作業の問題をなくします。
CCKは論理パスをトレースします。
CCKはトランジスタレベルのスタティック・タイミング解析を行います。
ダイナミック・タイミング解析:
CCKのスタティック・クロストーク解析には次の機能があります。
DCリークの検出:
シミュレーション時にスタンバイ電流をモニタして次の問題を突き止めます。