テスト設計ツール

高品質、低コストのテスト

DFTMAX™は、複雑な設計をテストする際のコストの問題に応える、合成ベースの包括的なテスト圧縮とDFTのソリューションです。複雑な設計は、スタックアット・テストに加え、アットスピード・テストやブリッジング・テストなどの高度な故障カバレッジ・テストでしか検出できないような、潜在的な製造上の不具合をもつ可能性があります。これらの設計でテストの質を高めるためには、追加のパターンが必要になり、テスト時間とデータ量の増大というコストがかさみます。

DFTMAXは、シリコン上の面積増加を最小限に抑えつつ、プッシュボタン方式で高品質なテストデータとテスト時間の圧縮を実現し、これらテストのコストを削減します。シノプシスのデザイン・プラットフォームの一部として緊密に統合されているDFTMAXは、TetraMAX® ATPGで圧縮技術を起動しながら、実質的にはタイミングに影響を与えることなく、予測可能な結果を達成します。また、DFTMAXのアドオンであるDFTMAX Ultraは、テストピン数を削減しつつ、さらに高い圧縮に対応します。

主な特長

  • テストのコスト削減
  • 高い故障検出率
  • 通常のスキャンと同等の使いやすさ
  • タイミングへの影響がない
  • フィジカルデザインを活用して面積の最適化を行う
  • ローパワー・インテントを維持
  • テスト時の消費電力を最低限に抑える
  • DesignWare STAR Memory SystemおよびDesignWare STAR Hierarchical Systemと併用可能
DFTMAXによるテスト時間およびデータ量の大幅な削減

DFTMAXによるテスト時間およびデータ量の大幅な削減