DFTMAX Ultra

優れたテスト品質とテスト・コスト削減のための圧縮

DFTMAX Ultraは、革新的な合成ベースのテクノロジを用いて、より高い圧縮率とテストスピードを少ピンで可能にし、非常に厳しいテスト品質およびテスト・コスト要求を満たします。シノプシスのデザイン・プラットフォームの一部であるDFTMAX UltraはTetraMAX ATPGとシームレスに連動して、設計目標とスケジュールを犠牲にすることなく、高い故障カバレッジと正確な故障診断を、高い予測性とともに実現します。 

主な特長

  • 製造テストのコストを大幅に削減
  • シリコン上の故障カバレッジが向上
  • テスト装置の性能を最大限に活用し、テスト時間とコストを更に削減
  • 少ピン・テストに必要なスキャンI/O数を最少化
  • テスト実行の簡素化と高速化
DFTMAX Ultraは、標準の少ピン・アーキテクチャに比較してTATR/TDVRが2~3倍改善されています。

DFTMAX Ultraは、標準の少ピン・アーキテクチャに比較してTATR/TDVRが2~3倍改善されています。図の各設計では、圧縮に単一のスキャン・チャンネルが使用されています