Yield Explorer 

针对产品工程且以设计为中心的良率管理  

纳米节点良率问题受设计-加工-测试交互控制,这种交互通过跨领域分析以迅速解决上述问题。Yield Explorer 将物理设计流程、晶圆制造和晶圆及芯片级检测等不同来源的相关良率数据集中到一个单独的数据库。
PDF Yield Explorer 数据手册

 

作为 Synopsys TetraMAX 诊断解决方案的补充,Yield Explorer 及时解决了产品工程团队如今面对的复杂难题。当面对系统性良率限制因素时,用户利用最广泛的数据,在根本原因分析方面获得无可比拟的透明度。一边是 ATE 测试到晶圆参数化数据,另一边是 DRC 标记或时序分布,现在可以轻松实现相互关联的输出。同时,Yield Explorer 在实现此等输出时,分析最复杂使用案例的速度具有一个数量级优势 - 如将 ATPG 输出的诊断分析速度提高 10 倍。

Yield Explorer 的功能包括:
  • 跨站点参数、设计、物理验证、仿真、产品测试和定制数据源的复杂关联
  • 同步组件构架集成所有引入数据形成独立而连贯的分析
  • 图表和电子表格与晶圆图以及失败的设计净覆盖项交互呈现
  • 动态可扩展的数据模型允许向 Yield Explorer 数据库加载任何数量的定制数据字段
  • 平台中立性分析客户端(Windows、Linux、UNIX)允许所有用户使用相同的应用,而不考虑桌面计算环境。

Yield Explorer 的功能包括:
  • 跨站点参数、设计、物理验证、仿真、产品测试和定制数据源的复杂关联
  • 同步组件构架集成所有引入数据形成独立而连贯的分析
  • 图表和电子表格与晶圆图以及失败的设计净覆盖项交互呈现
  • 动态可扩展的数据模型允许向 Yield Explorer 数据库加载任何数量的定制数据字段
  • 平台中立性分析客户端(Windows、Linux、UNIX)允许所有用户使用相同的应用,而不考虑桌面计算环境