IC WorkBench Edit/View Plus 

 高速版图可视化 

概览
IC WorkBench Edit/View Plus (ICWBEV+) 是一款强大的分层版图可视化和分析工具。 用户可使用该工具查看和编辑从小型 IP 模块到完整芯片数据库的 GDSII 和 OASIS 版图。 ICWBEV+:

  • 可通过较低的存储器开销快速打开大型 GDSII 和 OASIS 文件,而缓存文件可极大地缩短后续会话所用时间
  • 可为单元和图形的分层和布置提供简单易用的调试功能
  • 可显示快速互动的图形连接
  • 支持 IC Validator (VUE) 应用,可检查和纠正 DRC 和 LVS 错误
  • 为 Sentaurus 定义了分层版图中的 TCAD 仿真域

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图 1: 使用 ICWBEV+ 进行层次选择和编辑
图 1: 使用 ICWBEV+ 进行层次选择和编辑

高速、大容量查看和编辑功能
ICWBEV+ 可在几分钟内加载数千兆字节的数据,并且在 64 位平台上具有无限的文件大小容量。 快速缩放和平移可让用户轻松浏览和分析最大的版图模块。 另外,ICWBEV+ 还可以在单个视图中叠加两个或更多版图,而无需合并底层版图文件。 如图 1 所示,层次选择和编辑使 ICWBEV+ 可以选择并编辑层次深处的图形,而无需打开子单元。 编辑操作支持撤销和重做。

图 2: 图形信息工具提示和属性显示了版图图形的层次
图 2: 图形信息工具提示和属性显示了版图图形的层次

分层调试
对于大型芯片的最终设计而言,版图及其层次的调试至关重要,而 ICWBEV+ 则为此提供了多种调试工具,如图 2 所示。

  • 控制所显示层次的级别: 可配置 ICWBEV+ 显示任何级别的层次,用于更方便地确定图形来源
  • 图形信息工具提示: ICWBEV+ 提供了图形信息工具提示,可帮助用户快速确定图形和单元的层次
  • 属性: ICWBEV+ 可显示某一地点更详细的层次信息,包括单元布置信息

高级功能
ICWBEV+ 采用了最新的用户界面技术,并且经过精心设计,让 ICWBEV+ 的强大功能简单易用。 关键功能包括:

  • 电路跟踪 – ICWBEV+ 可基于用户定义的连接列表跟踪拼接图形。 可使用该功能快速检查版图中的开路/短路情况
  • 支持用户级和站点级定制
  • 以层次文件夹的形式表示所有对象,包括版图、规则和其他标记(如 SEM 图像)
  • 像浏览器一样通过前进和后退查看历史记录
  • 用户可定制菜单和命令的热键
  • 用户可定制窗口和工具栏的位置
  • 通过定制按钮运行用户创建的宏

通用平台和用户模式
ICWBEV+ 是建立在与 IC WorkBench Plus 产品相同的代码源上,但不支持光刻仿真。 在 ICWBEV+ 中可查看所有光刻标记类型。 ICWBEV+ 为不同的用户配置了相应的用户模式,包括:

  • IC Validator:通过点击工具栏上的按钮,默认建立并连接到 IC Validator VUE
  • Sentaurus: 通过其他标记(包括缩放操作和工具栏按钮)支持 TCAD 仿真,用于生成 Sentaurus 的仿真域信息
界面
  • 输入和输出
    • GDSII
    • OASIS
  • 用户界面
    • 基于 GUI 的用户界面
    • 基于 TCL 的用户界面(可使用 TK 小部件)
    • 套接通信
  • 支持的平台
    • AMD64、Linux 32、Sparc64、Suse 32、Suse 64