StarRC解决方案是EDA行业寄生参数提取的黄金标准。
作为新思科技设计平台的重要组成部分,它为SoC、定制数字、模拟/混合信号、存储器IC和3DIC设计提供了硅片级精度的高性能提取解决方案。
StarRC可为先进工艺节点提供物理效应建模,包括16nm、14nm、10nm、7nm、5nm及更先进制程的FinFET/GAA技术。
它能无缝集成到业界标准的数字和模拟实现系统、时序、信号完整性、功耗、物理验证和电路仿真流程中,同时具有调试能力,可实现无可匹敌的易用性和高效性,从而加快设计收敛及签核验证。StarRC内置场求解器Rapid3D,可作为参照工具或者提供更准确的测量结果。StarRC支持2.5D和3D-IC参数提取,并提供了针对AMS设计的新功能。
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